- מיקרוסקופית אלקטרונים חודרים (TEM): אפיון אנליטי, הולוגרפיית אלקטרונים למיפוי שדות מגנטיים (לורנץ) ופוטנציאל אלקטרוסטטי.
- חומרים מגנטיים להתקני זיכרון: הקשר בין הרכב ומבנה החומרים לתכונות מגנטיות וחשמליות של ההתקן.
פרופ' עמית כהן
סגל אקדמי בכיר במחלקה למדע והנדסה של חומרים
ראש מחלקה במחלקה למדע והנדסה של חומרים
מחלקה למדע והנדסה של חומרים
סגל אקדמי בכיר
ראש מחלקה במחלקה למדע והנדסה של חומרים